工作原理：    采用X射线荧光（XRF）技术进行多元素分析
探测器：    高性能、高分辨率Si-Pin X射线探测器，Peltier效应半导体制冷
硬件系统：    日立SH-4 CPU ASICS高速数字信号处理器　4096像元微通道结构
充电电池：    电池满充电可连续工作8-12小时
显示器：    带背光的视频图形阵列（VGA）触摸屏LCD,显示分析时间，合号，成分百分比含量和分析误差值（2倍sigma误差）
分析范围： 从22号元素钛（Ti）到83号元素铋（Bi）中，23个标准合金成分元素。选配充氦装置可以分析Mg,Al, Si, P。非标准元素亦可能分析，需根据具体情况协商确定
工作模式：    （1）合号鉴别与成分分析模式；（2）标识匹配鉴别模式；（3）超级成分分析模式
数据存储：    6000个以上的测量数据及其X射线谱图
仪器重量：    1.4公斤
仪器尺寸：    248×273×95mm（L×H×W）
激励源：    低功率35kV/1.0W银阳极靶X射线管
工作条件：    环境温度-20℃-50℃
安全特性：    操作密码保护，防止非授权人员使用；仪器断电或故障时，快门自动关闭；快门打开或X射线管工作时，仪器四周LED指示灯闪烁
标准附件： 带锁的防水手提箱，携带用仪器保护套，备用充电电池及护套，110v/220v通用充电器，PC机连接电缆，NDT软件，仪器手腕安全系索，仪器检查、验证用合金标样，使用手册
分析范围      
激励源：    Ｘ射线管
分析元素：    Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Zr Nb Mo Ag Pd Sn Hf Ta W Re Pb Bi Se Sb
应用范围：    各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金、铜合金、青铜、锌合金、钨合金等；可通过对其它合金元素的测定，实现对铝、镁轻合金的牌号鉴定。

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点击放大	产品型号： XLT898 产品报价： 产品特点： 详细介绍 NITON公司于1998年针对整个合金成份分析领域推出了具有革命性的XLt898合金成分分析仪， 该产品为世界*的高性能、手持式X射线荧光设备，能够对绝大多数合金进行成分和牌号鉴定。从那时起， NITON产品为诸多行业中的材料成分鉴定设立了标准，涵盖领域从废旧金属回收，以及石 化工业的PMI（材料可靠性鉴定），一直到制造业中对于金属零部件的质量管理与控制（QA/QC）。