X荧光光谱仪主要用途X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

 

X荧光光谱仪的技术原理：

 

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：

 

λ=K(Z− s) −2

 

式中K和S是常数。

 

而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：

 

E=hν=h C/λ

 

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。

 

因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

 

X荧光光谱仪有多种，以能量色散和波长色散两类为主。

 

1．能量色散荧光光谱仪

 

能量色散法是将X射线激发被测所有元素的荧光简单过滤后，全部进入到检测器中，利用仪器和软件来分出其中的光谱。如测的为元素周期表中相邻的两个元素，会因光谱重叠而产生测量误差。能量色散型仪器zui大的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要专业人员操作，缺点是对铬和溴是总量测定（一般不影响使用，因为很多情况可以判定，如测铬总量超标，常可知是不是六价铬超标，特别是溴，如被作为阻燃剂加入，不管是那种溴，总量超标就不合格）。

 

2．波长色散荧光光谱仪

 

波长法是因其激发出的荧光足够强，进到仪器中用来分析的光谱是单一元素（“过滤”了不需测的元素），不含其它元素的光谱，所以测量数据很准确。这种仪器的灵敏度比能量色散型高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。缺点是，波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测才准确。所以，用在材料厂适合。如不制成样本（非破坏），会因材料表面形状不同而产生不同误差。仪器操作也不需要专业人员。