X荧光光谱仪XRF是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量进行色散，根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量；根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量，这就大大提高了仪器的信噪比，提高了能谱仪分析轻元素的能力。
X荧光光谱仪XRF的性能特点：
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的进口SDD探测器。
内置信噪比25倍。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
X荧光光谱仪XRF的主要优势：
1、采用*的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）；
2、具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化；
3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求；
4、大容量的样品腔和高清摄像头，样品测量更灵活方便；
5、配备功能齐全的测试软件。
