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镀层厚度测试仪的测量原理和产品优势介绍
  • 发布日期:2023-01-12     信息来源:      浏览次数:678
    •    镀层厚度测试仪的测量原理:

        本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电涂盖层的厚度。
       
        磁性法(F型测头)
       
        当测头与涂盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性涂盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出涂盖层的厚度。
       
        涡流法(N型测头)
       
        利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与涂盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出涂盖层的厚度。
       
        镀层厚度测试仪的产品优势:
        1、可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
       
        2、操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。
       
        3、可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
       
        4、镀层检测,镀层检测可达5层,精度及稳定性高。
       
        5、激光定位和自动多点测量功能。
       
        6、可检测固体、粉末状态材料。
       
        7、运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
       
        镀层厚度测试仪的产品特点:
        触控彩色液晶屏,微电脑控制,自动分组统计值、平均值。
       
        旋转角度位移实时显示,保证测量准确回位。
       
        满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。
       
        测量平台新增托瓶装置支持上下调节,让测试轻松便捷。
       
        系统自带微型打印,上位机数据无限保存。
       
        专业电脑测试软件,曲线图显示,数据保存,EXCEL统计,打印A4试验报告。
       
        软件用户分级权限管理,数据统计及审计功能满足行业要求。

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