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X射线镀层测厚仪的原理和应用
  • 发布日期:2023-04-22     信息来源:      浏览次数:872
    • 镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量精度可达到相对误差±1.5%(1微米厚度),±0.01%(成分),与传统的磁性测厚仪相比,性能上有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且性价比高,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
       
      工作原理:
       
      镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
       
      应用领域:
       
      黄金,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测。
      金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
      贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀行业。

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