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天瑞X射线荧光光谱仪广受课题研究和生产监控的深爱
  • 发布日期:2016-03-10     信息来源:      浏览次数:2469
    •     天瑞X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。测量样品的zui大尺寸要求为直径51mm,高40mm。

         
      天瑞X射线荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等,以及各种形态样品的无标半定量分析,对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金,结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速,某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。
         
      天瑞X射线荧光光谱仪特点:
          分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;
          荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;
          分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差;
          分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。
         
      天瑞X射线荧光光谱仪指标信息
          1.发射源是Rh靶X光管,zui大电流125mA,电压60kV,zui大功率3kW
          2.仪器在真空条件下工作,真空度<13pascals
          3.5块分析晶体,可以分析元素周期表F~U之间所有元素,含量范围是ppm~100%
          4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)版软件,既可作半定量,也可定量分析。精密度:在计算率N=1483870时,RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%

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