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X射线荧光光谱仪的功能及应用
  • 更新日期:2020-01-13     信息来源:公司新闻      浏览次数:1880
    •    X射线荧光光谱仪已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析重要的技术手段之一,各种与X射线荧光光谱相关的分析技术,如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等,在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。

       
        X射线荧光光谱仪的功能:
        XRF是基于X射线的一种分析手段,当一束高能粒子与原子相互作用时,如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能,将该轨道电子逐出,形成一个空穴使原子处于激发态,由于激发态不稳定,外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态,跃迁时释放出的能量以辐射的形式放出便产生X荧光。
       
        X荧光具有特征的波长,对应的即是特征的能量,通过对光子的特征波长进行辨识,XRF能实现对元素的定性分析,通过探测特征波长的X射线光子的强度,实现元素的定量和半定量分析。
       
        X射线荧光光谱仪应用:
        固体样品中元素的定性、定量、半定量分析。固体样品类型包括块状固体、小颗粒小配件、薄膜、粉末、滤膜等。常见的XRF谱仪分为波长色散型和能量色散型,两者具有不同的分析范围和分析特点。
       
        本中心安装的仪器为波长色散型XRF,为波长色散XRF元素分析周期表,可分析元素从4号Be元素至95号Am元素,特定的轻元素分析需要配备相应的分光晶体。表1为几种常见的无机材料元素分析手段对比。

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