X射线荧光光谱仪的软硬件技术分析说明
更新日期：2022-01-10 信息来源：公司新闻 浏览次数：1254
X射线荧光光谱仪主要由激发源和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线，来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。
X射线荧光光谱仪的软件技术：
分析元素：Na~U之间元素。
短分析时间：60秒。
配置RoHS检测分析模型，无卤分析模型。
软件界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作。
可配置镀层分析模型、玩具指令等模型。
软件拥有数据一键备份，一键还原功能，保护用户数据安全。
根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试度。
配备开放式分析模型功能，客户建立自己的工作模型。
硬件技术：
超短光路设计：提高无卤检测分辨率，提高样品分析效率，降低光管功率，延长仪器使用寿命。
模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率。
e空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计。
电路系统符合EMC、FCC测试标准。
快拆卸样品台，换薄膜更方便。
