Thick 8000电镀镀层膜厚测厚仪是艺慈仪器专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
仪器配置 1 硬件：主机壹台，含下列主要部件： (1) X光管 (2) 半导体探测器(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔 (8）双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03 计算机、打印机各一台计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。参数规格1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）；
2.同时检测元素：*多24个元素，多达5层镀层；
3.分析含量：一般为2ppm到99.9%；
4.镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）；
5.SDD探测器：分辨率低至135eV；
6.良好的微孔准直技术：*小孔径达0.1mm,*小光斑达0.1mm；
7.样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头；
8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合；
9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um；
性能特点1.精密的三维移动平台；
2.的样品观测系统；
3.良好的图像识别；
4.轻松实现深槽样品的检测；
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换；
6.双重保护措施，实现无缝防撞；
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度。
安装要求：1 环境温度要求：15℃-30℃2 环境相对湿度：<70%3 工作电源：交流220±5V
电镀镀层膜厚测厚仪是集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
电镀镀层膜厚测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：Thick 800A电镀镀层膜厚测厚仪
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
电镀镀层膜厚测厚仪开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
电镀镀层膜厚测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
