x射线荧光镀层测厚仪技术参数

小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
分析含量一般为2ppm到99.9%
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg

x射线荧光镀层测厚仪性能优势

采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

x射线荧光镀层测厚仪产品配置

一、硬件：主机壹台，含下列主要部件： 
(1)   X光管                  (2) si-pin探测器
(3) 信号检测电子电路        (4) 高精度二维移动平台
(5) 高清晰摄像头            (6)高低压电源
(7)  开放式样品腔            (8） 双激光定位装置
(9)  铅玻璃屏蔽罩