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荧光X射线镀层测厚仪

产品型号:  thick8000

产品时间:  2024-01-08

所  在  地:  深圳市宝安区福永镇凤凰第一工业区

产品特点:  荧光X射线镀层测厚仪是一款快速无损测厚仪器,主要针对金属镀层(镀锌、镀镍、镀金、镀银、镀锌、镀铜等)厚度检测,广泛应用于电镀厂、电子电器企业、五金工具厂、线路板企业、电子连接器企业等。

(联系我们,请说明是在 深圳市艺慈仪器有限公司 上看到的信息,谢谢!)

产品概述

荧光X射线镀层测厚仪性能优势

 

快速

1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

方便

荧光x射线测厚仪部分机型采用进口国际上良好的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损

测试前后,样品无任何形式的变化。

直观

实时谱图,可直观显示元素含量。

测试范围广

荧光X射线镀层测厚仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从NaU

可靠性高

由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求

测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种良好的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

性价比高:相比化学分析类仪器,荧光x射线测厚仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

简易

对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

 

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动自检、复位;

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;

直接点击全景或局部景图像选取测试点;

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

 

荧光X射线镀层测厚仪技术指标

 

产品名称:荧光X射线镀层测厚仪

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30

分析元素范围:硫(S)~铀(U

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

良好的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

样品台尺寸:393Wx 258 Dmm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

 

部分产品

 

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