波长色散型XRF荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和探测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度。可以据此进行定性分析和定量分析。波长色散型X射线荧光谱仪产生于上世纪50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。

X荧光光谱仪的使用

　　1 启动

　　1.1 如停机在2-8小时，则外冷水需先运转10分钟，内冷水需先运转5分钟;如停机在8小时以上，则外冷水需先运转15分钟，内冷水需先运转10分钟。

　　1.2 开机顺序为打开外冷水

　　1.3 打开内冷水(COOLER)开关

　　1.4 打开CTROL、VACUUM开关(观察真空度是否下降到10以下，观察内冷却水的电导率是否在10以下)

　　1.5 打开HEATER

　　1.6 打开板高压开关

　　1.7 打开电脑，打开MXF操作软件，点击Monitor，观察状态并检查是否联机

　　1.8 一切正常后，打开面板右下方X-RAY开关

　　1.9 点击面板左上方X-RAY ON按钮，可打开X射线--按照(5KV-0mA)--(10KV-mA)--(15KV-0mA)--(20KV-0mA)--(20KV-5mA)--(20KV-10mA)顺序升高管流、管压。如停机在2-8小时，则每步需等待10分钟;如停机在8小时以上，则每步需等待20分钟

　　1.10 点击Maintenance栏位-弹出Maintenance-MXF-点击Inrument Setup-弹出Instrument Setup-在X-ray下方管压、管流栏位中，将两项设定为(30、20)，点击执行，即可使光管条件恢复待机状态，可进行常规分析操作。

产品介绍

EDX 4500H——XRF荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

EDX4500HXRF荧光光谱仪性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际良好水平

新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的*性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

EDX4500HXRF荧光光谱仪技术参数

产品型号：EDX 4500H

产品名称：X荧光光谱仪

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）

同时分析元素：一次性可测几十种元素

测量时间：30秒-200秒

探测器能量分辨率为：145±5eV

管压：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

测量对象状态：粉末、固体、液体

输入电压：AC 110V/220V

环境温度：15℃-30℃

环境湿度：35%-70%

样品腔体积：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

标准配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵

应用领域

XRF荧光光谱仪合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）