国产X荧光多元素分析仪性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际良好水平
针对合金的测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性；
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

硬件

主机壹台，含下列主要部件：
(1)X光管  Rh靶材                      (2)SDD电制冷半导体探测器
(3)放大电路和数字多道分析器             (4)高压电源系统
(5)高清晰摄像头                         (6)自动切换准直器
(7)自动切换滤光片                       (8)准直器和滤光片自由组合
(9)可抽真空样品腔及真空泵               (10)嵌入式液晶屏90mm×70mm

软件

X荧光光谱仪成分分析软件V2.0
计算机、打印机各一台
资料：仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。

标准附件

(准直孔：包括Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф4.0mm、Ф3.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个，共8个（已内置于仪器中）；
滤光片：5种组合（已内置于仪器中）；
标准样品（欧盟标样）：0＃标样、塑胶标样各一片、银校正片一片。

国产X荧光多元素分析仪技术指标

分析元素范围：Na-U
测量精度：0.05%（含量大于96%的样品）
元素测量范围：PPM级-99.99%
高压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
能量分辨率：145±5eV
RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Br达2ppm（因基体不同检出限可能存在一定差异）。
测量时间：60s-300s
计数率：计数率可高至100000cps

环境要求

环境温度要求
15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰。

标准配置

合金测试高效超薄窗X光管
超薄窗大面积的*SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

产品用途

X荧光多元素分析仪是自主研发生产的仪器，主要应用于合金元素检测、ROHS检测、矿石元素分析、炉渣分析、土壤分析、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品。