X射线荧光edx3600k分析仪​产品介绍

X射线荧光分析仪测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
含量范围：ppm～99.99%
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以
准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
测试台：360°电动旋转式
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
样品放置：*的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动
数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

X射线荧光edx3600k分析仪​产品特点

1.超低能量分辨率，轻元素检测效果更佳

2. 测试精度更高，检出限更低
3. 分析速度更快，从第1秒即可得到定性定量结果
4. 一键式智能化操作
5. 强大的自动化功能
6. 强度校正法
7. 完善的光路系统
8. 三重安全防护功能
9. 安全警示系统