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x射线荧光矿石分析仪

产品型号:  EDX3600K

产品时间:  2024-01-09

所  在  地:  深圳市宝安区福永镇凤凰第一工业区

产品特点:  x射线荧光矿石分析仪属于良好的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)一体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。

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产品概述

x射线荧光矿石分析仪技术参数

 

型号:EDX3600K

X射线源:50KV、1mA

样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm

分析方法:能量色散X荧光分析方法

测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量

检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素

含量范围:ppm~99.99%

检测时间:10秒以上

检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末

探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV

激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择

摄像头:高清摄像头

测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以

准直器和滤光片:四组准直器(7、5、3、1mm),6种滤光片组合自动切换

自旋装置:可调速的自旋装置

检出限:对样品中的大多数元素来说,检出限达5~500ppm

真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa

数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率

测试台:360°电动旋转式

保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成

样品放置:*的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动

数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高至500kcps

外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃

 

x射线荧光矿石分析仪应用领域

 

专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。

同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。

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