金属电镀光谱测厚仪Thick800a标准配置

金属电镀光谱测厚仪开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
型号：Thick 800A金属电镀光谱测厚仪
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

部分产品

X射线荧光测厚仪，X射线镀层测厚仪，x光镀层测厚仪， 国产镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪厂家，国产X荧光镀层测厚仪，x光镀层测厚仪，X射线镀层测厚仪价格，镀层测厚仪， XRF镀层测厚仪，国产电镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪，电镀层测厚仪，x射线荧光镀层测厚仪， x荧光镀层测厚仪价格，金属镀层测厚仪，X荧光电镀层测厚仪，镀层膜厚测试仪，无损金属镀层测厚仪，X光电镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪品牌，镀层测厚仪，X射线金属镀层测厚仪，x射线电镀层测厚仪，电镀镀层测厚仪，国产X射线镀层测厚仪，xrf镀层膜厚测试仪，X荧光镀层膜厚仪，X射线镀层膜厚仪,金属电镀光谱测厚仪。

金属电镀光谱测厚仪Thick800a产品介绍

是专业生产金属电镀光谱测厚仪厂家，分析仪器上市企业，thick800A金属电镀光谱测厚仪是一款自动化程度较高的仪器，电脑操作，极大方便了客户使用。配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
金属电镀光谱测厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

应用领域

金属电镀光谱测厚仪广泛应用在黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定，主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。