X射线荧光膜厚仪是一款通过X射线原理快速、无损测试镀层膜厚的仪器,主要应用于金属镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银……)膜厚的测试仪。
国产X射线荧光膜厚仪生产厂家配件
开放式样品腔,满足大样品测试
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
X射线荧光膜厚仪配备Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机(可以保存和实时打印)
国产X射线荧光膜厚仪生产厂家参数规格
型号:Thick 800AX射线荧光膜厚仪
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
产品用途
X射线荧光膜厚仪应用于金属镀层的厚度(镀银、镀金、镀镍、镀锌、镀铬、镀钯等)测量、电镀液和镀层含量的测定,端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、PCB、电子电器、气配五金、珠宝首饰、汽车配件、制冷设备、检测机构以及研究所和高等院校等卫浴等行业。