EDX-1800能量色散X射线荧光光谱仪应用于RoHS & WEEE指令分析、各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量、卤素指令Cl元素分析、矿石、原材料成份分析等、磁性磁性介质和半导体以及各种合金、贵金属成份分析.
EDX-1800能量色散X射线荧光光谱仪主要特点
●分析元素范围 S-U
| 仪器型号 | EDX-1800能量色散X射线荧光光谱仪 | |
| 分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | |
| 分析范围 | S（16）-U（92）任意元素 | |
| 检出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
| 样品形状 | 任意大小，任何不规则形状 | |
| 样品类型 | 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等 | |
| X射线管 | 靶材 | 钼（Mo）靶 |
| 管电压 | 5─50KV | |
| 管电流 | 1─1000ｕA | |
| 探测器 | 美国AMP-TEK Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统 | |
| 高压发生器 | 美国SPELLMAN高压发生器 | |
| 滤光片 | 智能滤光片自动选择并自动转换 | |
| 样品观察 | 500万彩色摄像机 | |
| 分析软件 | *升级 | |
| 分析方法 | Alpha系数法（NBS-GSC法）、FP法、标准曲线法 | |
| 符合规范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 | |
